開(kāi)爾文探針系統(tǒng)KP技術(shù)在使研究人員能夠改進(jìn)其材料的特性方面處于Leading position地位。

我們的專業(yè)知識(shí)支持新興和材料技術(shù)的發(fā)展。

目前令人興奮的增長(zhǎng)領(lǐng)域包括太陽(yáng)能電池、鈣鈦礦、二維材料、石墨烯、oled、光伏和鉬的研究，然而這項(xiàng)技術(shù)可以應(yīng)用于許多科學(xué)領(lǐng)域

掃描開(kāi)爾文探針是一種非接觸、非破壞性振動(dòng)電容裝置,用于測(cè)試導(dǎo)電材料的功函或半導(dǎo)體材料表面的表面電勢(shì)，表面功函。由材料表面最頂部的1-3層原子或分子決定，因而開(kāi)爾文探針是一種非常靈敏的表面分析技術(shù)。KP Technology公司目前可提供具有1-3 meV業(yè)界最高分辨率的測(cè)試系統(tǒng)。

特性

•在空氣中光電發(fā)射功函數(shù)

•密度的狀態(tài)測(cè)量

•3.4 eV至7.0 eV能量范圍

•測(cè)量所有半導(dǎo)體波段

•開(kāi)爾文探針接觸電位差

應(yīng)用領(lǐng)域：

•有機(jī)和非有機(jī)半導(dǎo)體

•金屬和金屬合金

•薄膜和表面氧化物

•太陽(yáng)能電池和有機(jī)光伏

•腐蝕和納米技術(shù)